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OS成像组件


产品简介

OS成像组件是由波粒光电自主研发和生产的用于光伏原硅片上料及制绒后等工序段缺陷检测的光源组件。其原理是利用近红外激光对硅片的高透过率,使大部分激光穿透硅片,配合近红外可感光的工业相机置于硅片另一侧进行成像,以此来观察硅片内部及外观上的缺陷。

OS成像组件可检测出硅片的隐裂、线痕、色差、崩边缺角及表面脏污等缺陷,采用高分辨率的工业相机其检测精度可达到0.2mm

OS成像组件分为一体式及分体式两种形式;分体式组件内部集成了近红外激光器、紧密恒流源驱动和高均匀性线光斑镜头,可选配由波粒提供的高分辨率线阵相机及红外镜头,也可配合客户自己的相机进行使用;一体式组件在分体式组件的基础上集成了线阵工业相机。组件高度集成,方便与工业自动化产线快速集成实现实时、高速和高分辨率成像


波粒(北京)光电科技有限公司

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